半軸熒光磁粉探傷機 CDG-3000型

CDG-3000微機控制半軸熒光磁粉探傷機

一、設備名稱(chēng)及用途：

1、設備名稱(chēng)：CDG-3000微機控制半軸熒光磁粉探傷機

2、被測工件：半軸。

3、規格：長(cháng)度0-1500mm，大頭直徑260mm，小頭直徑90mm。

4、檢測要求：檢查工件150盤(pán)的根部和整個(gè)桿部表面和近表面因鑄造、鍛造、機加工和疲勞而引起的裂痕等細微缺陷。

二、設備配置

1、電源控制柜            一套

2、磁化夾持裝置           一套

3、控制系統（西門(mén)子）     一套

4、磁懸液噴灑系統              一套

5、紫外燈系統                    一套

6、暗室系統                       一套

7、自動(dòng)退磁系統               一套